热电材料
使用Hot Disk技术可以很容易地测试小型热电样品。在这个例子中测试了两组热压Bi₂Te₃, p和n型样品,直径12毫米和3.5毫米厚度。
使用Hot Disk技术可以很容易地测试小型热电样品。在这个例子中测试了两组热压Bi₂Te₃, p和n型样品,直径12毫米和3.5毫米厚度。
两组热压Bi₂Te₃, p和n型样品,直径12毫米和3.5毫米厚度
基本模块,室温测试。使用7577型号Kapton探头来匹配样本大小。探头半径2mm能允许径向探测深度4mm,轴向探测深度3.5 mm,因此厚度限制了可用探测深度。样品表面经过轻砂处理,以确保光滑的界面和良好的热接触。探头被放置在样品两块样品中心,并牢牢夹住。
对每个样品组进行一次初始测试,测试时间为4秒,加热功率为50 mW。该加热功率被证实可使p型和n型样品的最终温度升高接近3 K。对于n型试样,测量时间缩短为3秒,使探测深度保持在试样边界内。
准确试验按下表进行,反复试验间隔15分钟:
样品 |
测试 时间 |
加热 功率 |
探头 |
测试 次数 |
---|---|---|---|---|
P-type | 4 s | 50 mW | 7577 | 6 |
N-type | 3 s | 50 mW | 7577 | 6 |
最终结果经过计算后(选点40-180),如下表所示:
样品 | 导热系数 [W/m/K] | 标准差 [W/m/K] | 热扩散系数 [mm²/s] | 标准差 [mm²/s] | 体积比热 [MJ/m³K] | 标准差 [MJ/m³K] |
---|---|---|---|---|---|---|
P-type | 0.833 | 0.0009 | 0.732 | 0.0046 | 1.137 | 0.0077 |
N-type | 0.952 | 0.0022 | 0.982 | 0.0143 | 0.969 | 0.0146 |
n型Bi₂Te₃显示了比p型样品更高的导热系数,。p型样品的体积比热是略低于理论(1.187 MJ / m³K) ,而n型标品更低。这可能是由于n型样品的密度较低或各向异性较大所致。
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