最新版本
已发布
硬件要求
- 需配备USB端口并安装Microsoft Windows 7或更高版本操作系统的计算机
- Hot Disk®仪器需为2006年或之后生产，可通过仪器序列号的前四位数字进行验证
软件更新说明
建议通过程序内置的更新功能升级至最新版本； 若遇到问题，请联系技术支持邮箱： moc.stnemurtsniksidtoh@erawtfos。
软件设计和功能
版本 7.5
一旦在PC上安装，Hot Disk桌面应用程序可以从Windows开始菜单或通过桌面快捷方式启动。Hot Disk桌面应用程序的主窗口提供了访问其他窗口和对话框的功能，用于执行或计划程序测量、设置通过辅助温度控制单元（TCU）在不同环境温度下自动测量、通过辅助Hot Disk探头转换器引入传感器切换方案、审查和处理测量数据、执行基本统计分析以及将测量数据导出到xlsx或txt文件。主窗口还提供支持功能，包括访问数字版的操作手册、故障排除指南以及联系Hot Disk支持团队的信息。
通过“实验类型对话框”启动新实验，其中指定了Hot Disk仪器型号和要进行的实验类型。可用的实验类型取决于测量模块配置，即已授权的附加测量模块（单面、各向异性、平板、一维、薄膜等），这些模块与相关的定制Hot Disk仪器有关。
测量设置随后通过“实验设置”窗口指定，显示字段取决于实验类型。对于各向同性（标准）块体样品测量，设置包括指定生成的热量脉冲、可用探测深度（与样品的物理尺寸相关）、传感器型号、测量时间和加热功率。此处提供参数向导形式的支持功能（在下文中更详细描述），以帮助设置适当的测量时间和加热功率。
在某一给定的环境温度下，通常会进行一系列设置相同的测量，以获得实验精度的统计数据。这可以通过批量测量方便地实现，批量测量通过计划程序工具（将在下文详细描述）实现自动化。
当一系列测量完成后，实验批量窗口允许检查Hot Disk仪器读取的传感器温度升高，这是在进行单个瞬态测量时获得的。在初始跳跃（与传感器包覆层/传感器与样品之间的接触热阻有关）之后，它将显示一个平稳且连续增加的无波动的温度升高曲线。
批量实验窗口还允许检查单个瞬态测量之前Hot Disk仪器读取的传感器温度漂移。获得稳定的初始传感器温度对于确保Hot Disk仪器的准确性和精度至关重要。
测量数据经过处理以提取样品的热传导参数。对于温度升高的拟合△T(r)函数，其中r与时间平方根成正比，拟合到测量的瞬态温度读数（平稳连续增加的温度区间）。该计算分析的设置在“计算设置”窗口中进行。对于各向同性（标准）块体样品测量，它包括指定要计算的测量数据点、传感器的比热容，以及是否采用在瞬态温度读数之前的温度漂移补偿。
计算分析完成后，将在批量实验窗口中展示分析的ΔT(τ)函数与所涵盖数据点的测量瞬态温度增升高之间的线性拟合。从该拟合结果中提取的热传导参数也将在此列出。
批量实验窗口通过展示包含的数据点与拟合的ΔT(τ)函数之间的差异，来仔细检查拟合的质量。数据点应随机分布在零开尔文附近，这一要求旨在排除瞬态温度读数前的温度漂移、传感器包层/传感器与样品之间的接触热阻，以及样品中产生的热脉冲超过可用探测深度等因素对实验结果的影响。
批量实验窗口内的所有数据均可导出至.xlsx或.txt文件，便于后续处理或报告生成。此功能通过主窗口操作。
在Hot Disk 桌面应用程序中，可手动操作Hot Disk仪器进行实验。计划程序工具实现实验步骤自动化，便于重复测量。计划程序窗口的自动化步骤包括：等待时间、温度漂移读取、瞬态温度读取、计算分析及数据导出，均在此窗口编程与监控。计划程序还支持不同环境条件测量，通过自动控制空闲TCUs、探头转换器等，在不同环境温度、传感器端口及Hot Disk仪器上编程与监控测量。
Hot Disk桌面应用程序为Hot Disk仪器、辅助温控设备（TCUs）及探头转换器的操作提供了多项支持功能。其中一项关键功能为参数向导，用于设置瞬态温度读取的测量时间和加热功率。用户可通过实验窗口设置访问此参数向导。参数向导会根据用户在对话框中输入的关于待测样品的信息，提供参数建议。输入信息越详细，生成的参数将越精确。
计划程序功能中的第二种支持的功能是温度序列设置。这支持快速编程涉及在选定的TCU上以特定的环境温度间隔进行测量的计划。设置是在温度序列向导对话框中输入的，之后它会生成相应的连续步骤列表，显示在计划程序窗口中。
Hot Disk支持功能的第三种是从主窗口启动的Hot Disk支持向导。目的旨在帮助用户识别并解决任何软件或硬件问题。通过Hot Disk支持向导对话框，以逐步过程引导用户进行故障排除。支持向导首先指导用户。自行解决问题，若无法解决，则可将相关信息发送给Hot Disk支持团队，团队将迅速回复查询。
