应用说明

测量熔融石英在-20°C至1000°C范围内的导热系数

Anton Ma博士 在本应用案例中,通过Hot Disk仪器在-20°C至1000°C范围内对熔融石英进行导热系数测量,展示了Hot Disk仪器在高温下研究材料热传导特性的独特能力。这是通过使用TPS仪器和合适的Hot Disk传感器以及TCU配件实现的。

导热系数是衡量材料中传递热量的能力。它取决于温度,并受到例如材料缺陷和自由电子浓度的影响。在广泛的温度范围内,它也可以是非线性的。此外,同一材料的不同样品/批次之间可能有很大差异。从理论上预测导热系数与温度的关系是具有挑战性的,因此实验方法是必不可少的。

导热系数的温度依赖性受主导传热机制的温度依赖性影响。在纯金属中,热量主要通过自由电子传递,导致导热系数随着温度的升高而降低。在电绝缘材料中,能量传输以晶格振动为主,而晶格振动通常表现出导热性随着温度的升高而增加。

Hot DiskAB提供各种解决方案,包括基于TPS技术和温度控制单元(TCU)的各种仪器作为配件,以帮助客户处理各种与温度相关的测量情况。每个TCU都可以由Hot Disk软件控制,它允许用户按照目标温度进行瞬态测量。

在本应用说明中,Hot Disk仪器研究高温材料热传递特性的独特能力通过对-20°C至1000°C之间的熔融石英的导热系数测量证明。这是通过使用配有合适的Hot Dis传感器和TCU配件的TPS仪器来实现的。熔融石英是一种具有良好特征温度依赖性的导热性材料;由于其化学稳定性,它也是一种适合高温的演示材料。

 

样品: 熔融石英
(直径60毫米,厚度20毫米)
动量的
(经过认证的99.99%纯度)
TCU: 水浴循环器
(温度操作范围:-20~180°C)
Thermofisher

对流烘箱

(温度运行范围:RT ~ 300°C)
Carbolite

管式炉

(温度运行范围:100~1000°C)
Entech
Hot Disk仪器: TPS 3500  
Hot Disk 传感器: 4922, Kapton覆膜
(对于温度<300°C)
 
4922, 云母覆膜
(对于温度>300°C)
 
测试瞬态时间: 80秒  
测试加热功率: 400 mV  
Thermal Conductivity / W/mK1.000.51.01.52.02.53.03.54.04.5Hot Disk InstrumentRef. 1Ref. 2

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图1,熔融二氧化硅的导热系数与温度的函数,由Hot Disk仪器(红色)测量,以及从保护热板法测量1(蓝色)和最近从TDTR测量中获得的数据2(灰色)的比较。

在测量中,水浴循环器和Kapton覆膜传感器用于-20至100°C的温度,对流烘箱和Kapton覆膜传感器用于RT至300°C的温度,管式炉和云母覆膜传感器用于300°C以上的温度。云母覆膜传感器允许高达1000°C的测量。对于管式炉,在测试过程中使用了净化氮气,以分别抑制样品、传感器和接触布线的氧化。

对于每个编程温度,TPS仪器被设置为执行三次重复瞬态记录,中间间隔20分钟,以确保在启动新的瞬态记录之前样品中的等温条件。图1(红色)显示了测量的导热系数对温度的函数,分别作为从三个瞬态记录中提取的三个值的平均值。

Hot Disk分析软件包含一个特殊功能,允许用户对单个Hot Disk传感器校准TCR温度系数,并在确定瞬态记录的热传导属性时应用此TCR数据。这是使用Hot Disk传感器提供的默认TCR数据的替代方案,该默认数据已通过一系列Hot Disk传感器在工厂进行校准和平均。有关使用Hot Disk仪器校准特定Hot Disk传感器的TCR的更多信息,可应要求提供。

综上所述,在熔融石英样品上展示了测量高达1000°C的导热系数的能力。使用了三种不同的TCU配件,覆盖了-20到1000°C之间的广泛温度范围。测量结果证明与文献数据非常一致,在500°C的温度下偏差不到5%。对于较高的温度,偏差略大,这可能是由于样品、传感器和/或接触布线的氧化,以及测试室的温度稳定性降低造成的。

Hot Disk AB公司不断开发他们的仪器和配件,特别是用于高温应用,并感谢客户的所有反馈。如需更多信息、问题或意见,请通过以下方式联系我们: moc.stnemurtsniksidtoh@ofni.

参考文献

  1. A. Sugawara, Precise determination of thermal conductivity of high purity fused quartz from 0 to 650 °C, Physica 41 (1969) 515-520↩︎
  2. http://users.mrl.illinois.edu/cahill/tcdata/tcdata.html↩︎