快速产线QC测试
单面测试测量模块的开发旨在实现使用我们的Hot Disk®或Hot Strip®传感器对热系数、热扩散系数、蓄热系数和比热容进行单面而非双面的样品测试。这简化了测试过程,因为所需的样品量和准备工作更少,并且在样品与传感器的夹紧方面提供了更大的灵活性。
应用我们的单面样品测试,将Hot Disk®或Hot Strip®传感器和隔热背景材料放置在单个样品件或组件的表面上。隔热背景材料通常是一块厘米厚的发泡聚苯乙烯泡沫。接下来,执行与我们的标准双面测试相同的瞬态温度读取,但热脉冲的功率需降低50%。
与我们的标准双面样品测试相比,我们的单面样品测试也显示出优异的可重复性和再现性。这使得在生产线上进行快速且高精度的质量控制测试、快速比较样品研究和测试有限数量的样品成为可能。
应当注意,我们的单面测试在结果准确性方面略低于我们的标准双面测试。这是由于在瞬态温度读取过程中传感器周围必然存在的非对称热流所导致的。由于这一点以及使用了非理想的隔热背景支撑,更适用于高导热样品。相比之下,低导热样品(例如,许多聚合物)只能得出蓄热系数。
Hot Disk AB的联合创始人首次在1983年描述了这种单面测量程序。他于1983年在《Review of Scientific Instruments》上发表的论文概述了该方法的基本原理。
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S.E….
导热系数范围:
| 设备型号 | 范围 |
|---|---|
| TPS 3500,TPS 2500 S,TPS 2200, TPS 1000 | 0.11到500W/mK |
| TPS 1500 | 0.11到400W/mK |
| TPS 500 S | 0.11到200W/mK |
| TPS 500 | 0.11到100W/mK |
| Hot Disk M1 | 0.11到40 W/mK |
- 为了达到最大精度,样品导热系数需要至少1 W/m/K;然而,可重复性和蓄热系数数值在降至0.1 W/m/K时仍然良好。