这款较大的台式水平管式炉为分体型,使用多区金属线圈元件进行加热。该炉具有可拆卸的管状和真空密封的温度腔,内径为100毫米。分体式设计减少了管体降温时间。

其他控温系统(TCU)

相变样品架
最高使用温度:180°C

本样品架适用于测试熔融态样品,如塑料、蜡、盐、金属合金等。样品在装载时为固态粉末、颗粒或丸状,在测量所需的环境温度升高后,将转变为液态进行测试。

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固体样品架适用的绝热背景--用于单面测试
最高使用温度:50°C

此单面测试用绝热背景专为使用固体样品架测试单个样品(而非标准的两件样品)而设计。它能确保在瞬态记录期间,由 Hot Disk® 或 Hot Strip® 传感器产生的热量传导至样品中。使用时,需通过样品架的夹紧装置,将绝热背景牢固地压紧在样品的上表面,并将 Hot Disk® 或 Hot Strip® 传感器置于二者之间。该绝热背景由一个3D打印的PLA(聚乳酸)主体构成,其上表面集成有不锈钢圆盘,下表面配有隔热块。不锈钢圆盘用于定位样品台的施压点并分散施加的作用力。隔热块通过夹紧方式固定于主体内,便于更换。其由20毫米厚的EPS(发泡聚苯乙烯)板制成,亦可根据需要更换为XPS(挤塑聚苯乙烯)。在测试高导热性样品或表面粗糙的样品时,使用XPS可能更具优势,因为此类测试需在绝热背景与样品之间施加较高压力。与EPS相比,XPS具有更高的抗压强度,但其导热系数略高。 该绝热背景设计最高使用温度为 50°C**,提供两种尺寸,分别适用于标准版及大号版固体样品架。 - 选项1:适用于标准版固体样品架 - 选项2:适用于大号版固体样品架 # 固体样品架适用的绝热背景--用于单面测试 | 温度范

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PT100 电缆延长线
-20°C 至 50°C

这款灰色聚合物护套 PT100 电缆延长线适用于测试点与 Hot Disk® 仪器之间距离较长的测量场景。其两端均配备 4 针 Lemo 连接器,可便捷地延伸我司 PT100 温度传感器的电缆长度。

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闭式循环低温恒温器
-268°C(5 K)至室温

本款低温恒温器由 Hot Disk AB 公司研发,专用于低至 10 K 的极低温测量,主要面向航空航天领域应用。其采用压缩氦气进行冷却,并辅以电阻丝元件进行加热。

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持续通气的低温系统
-195°C(78 K)至室温

这款落地式低温系统使用来自杜瓦瓶的连续液氮流动进行冷却,并使用电阻丝元件进行加热。该系统由四个独立部分组成:圆柱形真空室,顶部有液氮容器,两者都集成在落地支架上;温度控制单元;涡轮分子泵;以及自增压杜瓦瓶。

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低温至高温的温度控制箱
-60℃至300℃

这个落地式TCU设备使用两级制冷系统,以及R404A和R23制冷剂用于制冷,并搭配周围配有加热元件用于加热的风扇。它配备了一个箱形温度室,体积为50升。

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油浴循环器
-40℃至200℃

这种落地式油浴循环器采用欧盟批准的丙烷(A45)冷却介质,并配有用于加热的电加热元件。油浴循环器具有耐腐蚀的不锈钢风扇,储液器为12升。该温度容器的有效工作区域为6升。

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对流式烘箱
室温至300°C、400°C、500°C或600°C

这款台式对流烘箱使用风扇和周围的加热元件进行加热。烘箱采用箱形温度室设计,可选容量为30升或60升。

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马弗炉
室温至800°C

这款台式陶瓷马弗炉采用电阻丝绕线元件进行加热。该炉体采用箱形温度室设计,体积可选4升或6升。

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非分体式管式炉
室温至1000°C

这款较小的台式水平管式炉为非分体型,使用多区金属线圈元件进行加热。该炉具有可拆卸的管状和真空密封的温度腔,内径为50毫米。

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PT100 温度传感器
-80°C 至 250°C

PT100温度传感器可选用于记录样品附近的环境温度,以及在使用Hot Disk®仪器进行测量之前的环境温度。当使用温度控制单元(TCU)时,它特别有用,因为样品温度可能与集成TCU温度计记录的温度不同。请注意,此PT100温度传感器不用于我们TCU单元的自动温度控制。

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PT100 温度传感器
-50°C 至 400°C

PT100温度传感器可选用于记录样品附近的环境温度,以及在使用Hot Disk®仪器进行测量之前的环境温度。当使用温度控制单元(TCU)时,它特别有用,因为样品温度可能与集成TCU温度计记录的温度不同。请注意,此PT100温度传感器不用于我们TCU单元的自动温度控制。

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